X IZPIEN ZERBITZU OROKORRA: MOLEKULA ETA MATERIALEN UNITATEA

Unitate honen prestazioek kristal-egitura baten azterketaren alderdi guztiak hartzen dituzte, kristal bakarreko difrakzio-datuetatik abiatuta: kristal bakarreko difrakzioaren hautaketa eta muntaketa, simetriaren aurreko azterlanak, difrakzio-datuen bilketa, egiturazko bereizmena eta emaitzen analisia.

Eskura dagoen ekipamenduari esker, egiturazko azterlanak egin daitezke, material polikristalinoen difrakzio-datuetatik abiatuta. Teknika horri esker, laginean dauden fase kristalinoak identifikatu daitezke, hura suntsitu gabe, eta materiala inolako narriadurarik gabe berreskuratzeko aukera ematen du. Material mota askotan, posible da kristal-egitura, testurazioaren presentzia edo hondar-tentsioak, geruzen lodiera, egiturazko trantsizioak eta abar ezaugarritzea. Azterlan horiek difraktogramaren profil-analisiaren bidez egiten dira, eta, beharrezkoa den kasuetan, berariazko softwarea erabiltzen da horretarako.

Aplikazio nagusiak honako atal hauetan bil daitezke:

• Fase puruak edo nahasketa batean dauden faseak identifikatzea.
• Konposatu baten egitura kristalinoa ezaugarritzea.
• Fase kristalinoen trantsizioak identifikatzea eta aztertzea, tenperaturaren arabera.
• Materialen akatsak edo akatsak, kristalaren tamaina, ezpurutasunak eta soluzio solidoen terminoak aztertzea.
• Hondar-tentsioko fenomenoak aztertzea (estresa).
• Mikroegituraren karakterizazioa, lodieren edo makroegituren kalkulua.
• Fase polimorfoak identifikatzea eta aztertzea, adibidez, erabilera farmazeutikorako.
• Aleazio eta konposite desberdinen testurazio-mailak zehaztea.
• Egiturazko azterlanak, aldizkako solidoetan eta ez-periodikoetan, batez ere neurtezinak diren egiturak dituzten materialetan eta kuasikristaletan.

Gainera, X izpien Zerbitzuak aholkularitza eskaintzen du egin beharreko neurrietan errendimendu handiagoa lortzeko eta esperimentuak optimizatzeko. Eskura dauden baliabideekin konpondu ezin diren arazo espezifikoen kasuan, nazioz gaindiko instalazio handietan neurriak proposatzeko eskaerak egiten lagunduko da (erradiazio sinkrotroiko iturriak eta/edo neutroi-sortenak).