Difractómetro automático para medidas desde bajas posiciones angulares en reflexión o trasmisión.

Con objeto de abordar la posibilidad de realizar medidas de difracción de altas prestaciones y aumentar la versatilidad de la técnica se ha adquirido un nuevo equipo de difracción de Rayos X, el Difractómetro multifunción RigakuSmartlab con configuraciones optimizadas para XRR y SAXS.

La dispersión de rayos X a bajos ángulos, o SAXS (Small Angle X-rayScattering) es una técnica basada en analizar la dispersión de rayos X producida por un material al paso del haz, a ángulos muy próximos a cero. Esta técnica permite caracterizar materiales en la nanoescala (1-100 nm) mediante el estudio de la dispersión de rayos-X, obteniéndose información sobre la dispersión, tamaño y forma del material a analizar.

Por otra parte, el análisis por Reflectometría, otra forma de difracción de los rayos X, se usa para determinar el espesor, la calidad y aspereza de materiales mono- o multi-capa, tanto cristalinos como amorfos. Estas configuraciones permiten, además, el análisis de láminas delgadas y de ángulo rasante. Así, mediante la Reflectometría de rayos-X es posible determinar grosor, densidad y rugosidad de películas.

La incorporación de esta nueva infraestructura en el servicio posibilita la caracterización de materiales funcionalizados, pudiéndose estudiar materiales composite o multicapas. El análisis de este tipo de materiales multifuncionales permite su posterior adaptación a las necesidades industriales, acercando de esta manera la investigación fundamental que se desarrolla en la universidad a las aplicaciones finales de los materiales.