Materia
Técnicas experimentales en RF y microondas
Datos generales de la materia
- Modalidad
- Presencial
- Idioma
- Inglés
Descripción y contextualización de la asignatura
Comprender los fundamentos de las técnicas y sistemas de medición de RF y microondas. Adquirir práctica en el uso de equipos de microondas.Profesorado
| Nombre | Institución | Categoría | Doctor/a | Perfil docente | Área | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| BADILLO FERNANDEZ, INARI | Universidad del País Vasco/Euskal Herriko Unibertsitatea | Profesorado Agregado | Doctor | Bilingüe | Electrónica | inari.badillo@ehu.eus |
| COLLANTES METOLA, JUAN MARIA | Universidad del País Vasco/Euskal Herriko Unibertsitatea | Profesorado Catedratico De Universidad | Doctor | No bilingüe | Electrónica | juanmari.collantes@ehu.eus |
| OTEGI URDANPILLETA, NEREA | Universidad del País Vasco/Euskal Herriko Unibertsitatea | Profesorado Agregado | Doctora | Bilingüe | Electrónica | nerea.otegi@ehu.eus |
Tipos de docencia
| Tipo | Horas presenciales | Horas no presenciales | Horas totales |
|---|---|---|---|
| Magistral | 20 | 25 | 45 |
| P. Laboratorio | 25 | 42.5 | 67.5 |
Actividades formativas
| Denominación | Horas | Porcentaje de presencialidad |
|---|---|---|
| Aula/Seminario/Taller | 20.0 | 100 % |
| Laboratorio / Campo | 25.0 | 100 % |
| Trabajo Autónomo | 67.5 | 0 % |
Sistemas de evaluación
| Denominación | Ponderación mínima | Ponderación máxima |
|---|---|---|
| Aplicación en prácticas de los materiales teóricos | 40.0 % | 60.0 % |
| Examen escrito | 40.0 % | 60.0 % |
Resultados del aprendizaje de la asignatura
Conocimientos o contenidos:RCO4 - Comprender y manejar los equipos de caracterización en alta frecuencia
Competencias:
RC1 - Ser capaz de analizar circuitos pasivos y activos de alta frecuencia
Habilidades o destrezas:
RHE1 - Ser capaz de pensar analíticamente
RHE2 - Ser capaz de analizar y resolver problemas técnicos
RHT2 - Ser capaz de diseñar y caracterizar dispositivos pasivos de alta frecuencia para distintas aplicaciones
RHT4 - Ser capaz de trabajar de forma práctica con equipos básicos para medidas de RF y microondas
Temario
1 - Revisión de las figuras de mérito a nivel de circuito y a nivel de sistema.2 - Instrumentos básicos: Medidores de potencia, Analizadores de espectro, Analizadores vectoriales de señales, Analizadores vectoriales de redes, Analizadores vectoriales de redes no lineales, Osciloscopios y medidas en el dominio del tiempo y Medidores de figura de ruido.
3 - Instrumentación modular.
4 - Setups de medida (medidas IMD, Load-Pull activo y pasivo, I-V pulsado, etc.).
Bibliografía
Bibliografía básica
- N. Borges, D. Schreurs, Microwave and Wireless Measurement Techniques, Cambridge University Press, 2013- V. Teppati, A. Ferrero, M. Sayed, Modern RF and Microwave Measurement Techniques, Cambridge University Press, 2013
- R.J. Collier and A.D. Skinner (Ed.), Microwave Measurements, IET, 2007, London.
- Exploring the Architectures of VNAs, Agilent Application Note 1287-2.
- Applying Error Correction to Network Analyzer Measurements, Agilent Application Note 1287-3.