Materia
Fundamentals of Nanoscale Characterization/Fundamentos de la Caracterización a Nanoescala
Datos generales de la materia
- Modalidad
- Presencial
- Idioma
- Inglés
Descripción y contextualización de la asignatura
Esta asignatura proporciona a los/las estudiantes los conocimientos necesarios para entender las principios teoricos basicos de los procesos fisicos fundamentales que permiten caraterizar la estructura de los materiales en la escala nanometrica.Profesorado
| Nombre | Institución | Categoría | Doctor/a | Perfil docente | Área | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| BLANCO REY, MARIA | Universidad del País Vasco/Euskal Herriko Unibertsitatea | Personal Doctor Investigador | Doctora | No bilingüe | Física de la Materia Condensada | maria.blanco@ehu.eus |
| JUARISTI OLIDEN, JOSEBA IÑAKI | Universidad del País Vasco/Euskal Herriko Unibertsitatea | Profesorado Catedratico De Universidad | Doctor | Bilingüe | Física de la Materia Condensada | josebainaki.juaristi@ehu.eus |
Competencias
| Denominación | Peso |
|---|---|
| Que los estudiantes adquieran conocimientos sobre la física subyacente a los métodos experimentales de análisis en nanociencia | 100.0 % |
Tipos de docencia
| Tipo | Horas presenciales | Horas no presenciales | Horas totales |
|---|---|---|---|
| Magistral | 18 | 33 | 51 |
| P. de Aula | 12 | 12 | 24 |
Actividades formativas
| Denominación | Horas | Porcentaje de presencialidad |
|---|---|---|
| Clases teóricas | 30.0 | 100 % |
Sistemas de evaluación
| Denominación | Ponderación mínima | Ponderación máxima |
|---|---|---|
| Examen escrito | 100.0 % | 100.0 % |
Convocatoria ordinaria: orientaciones y renuncia
Evaluación final: Examen teórico-práctico final: 100%En todo caso, si el alumno no se presentara al examen final se le consideraría como no presentado.
Convocatoria extraordinaria: orientaciones y renuncia
Evaluación final: Examen teórico-práctico final: 100%En todo caso, si el alumno no se presentara al examen final se le consideraría como no presentado.
Temario
1 ELASTIC SCATTERING AND DIFFRACTION1.1. ELASTIC SCATTERING OF LIGHT WITH MATTER
1.2. STATIC STRUCTURE FACTOR AND PAIR DISTRIBUTION FUNCTION
1.3. DIFFRACTION IN CRYSTALLINE SOLIDS
1.4. ELASTIC SCATTERING OF ELECTRONS WITH MATTER
1.5 ELASTIC SCATTERING OF NEUTRONS WITH MATTER
2 INELASTIC SCATTERING. DYNAMIC STRUCTURE FACTOR AND TIME CORRELATION
3 LINEAR RESPONSE THEORY
3.1. DENSITY-DENSITY RESPONSE FUNCTION
3.2. NON INTERACTING FERMI GAS
3.3. THE CHARGED FERMI LIQUID AND THE DIELECTRIC FUNCTION
3.4. RANDOM PHASE APPROXIMATION. PLASMONS.
4 FUNDAMENTALS OF SPECTROSCOPY
4.1. GREEN FUNCTIONS (CLASSICAL, ONE-BODY SCHRÖDINGER EQUATION, SINGLE-PARTICLE FOR MANY-BODY)
4.2. LEHMAN REPRESENTATION. THE SPECTRAL FUNCTION. BROADENING (LINE WIDTH)
4.3. MEASURING THE SPECTRAL FUNCTION WITH SCANNING TUNNELING SPECTROSCOPY.
3.4. TWO-PARTICLE CORRELATION FUNCTIONS (RESPONSE FUNCTIONS)
5 DIFFERENT SPECTROSCOPIES
5.1. INELASTIC ELECTRONS TUNNELING SPECTROSCOPY (IETS)
5.2. ANGLE RESOLVED PHOTOEMISSION SPECTROSCOPY (ARPES)
5.3. TWO PHOTON PHOTOEMISSION SPECTROSCOPY (2PPE)
5.4. VIBRATIONAL SPECTROSCOPIES: INFRARED (IR), RAMAN AND HREELS
5.5. X-RAY ABSORPTION SPECTROSCOPY (XANES, EXAFS AND NEXAFS)
Bibliografía
Bibliografía básica
¿X-RAY DIFFRACTION¿BY B. E. WARREN
DOVER PUBLICATIONS, 1990.
¿DIFFRACTION PHYSICS¿
BY J. M. COWLEY
NORTH-HOLLAND PHYSICS PUBLISHERS, 1984.
¿TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY AND DIFFRACTOMETRY OF MATERIALS¿
BY B. FULTZ AND J. M. HOWE
SPRINGER-VERLAG, 2001.
¿DIFFUSE NEUTRON SCATTERING FROM CRYSTALLINE MATERIALS¿
BY V. M. NIELD AND D. A. KEEN
OXFORD UNIVERSITY PRESS, 2001.
¿FUNDAMENTALS OF CRYSTALLOGRAPHY¿
BY C. GIACOVAZZO, H. L. MONACCO, G. ARTIOLI, D. VITERBO, G. FERRARIS, G. GILLI, G. ZANOTTI, AND M. CATTI
OXFORD UNIVERSITY PRESS, 2002.
¿THE THEORY OF QUANTUM LIQUIDS¿
BY PHILIPPE NOZIERES AND DAVID PINES
PERSEUS BOOKS PUBLISHING, 1999.
"BEYOND THE ONE-ELECTRON MODEL. MANY-BODY EFFECTS IN ATOMS, MOLECULES AND SOLIDS"
BY CARL-OLOF ALMBLADH AND LARS HEDIN.
CHAPTER 8 OF HANDBOOK ON SYNCHROTON RADIATION, VOL. 1, EDITED BY E. E. KOCH
NORTH HOLLAND PUBLISHING COMPANY, 1983.
"SOLID-STATE PHOTOEMISSION AND RELATED METHODS" (THEORY AND EXPERIMENTS)
EDITED BY WOLFGANG SCHATTKE AND MICHEL A. VAN HOVE.
WYLEY-VCH VERLAG GMBH&CO.KGAA, 2003.