Hurrengo konpetentziak landuko dira:

M02CM04- Egituren ezaugarriek beren portaeran nolako eragina daukaten analizatu eta ulertzeko gaitasuna. Egituren erresistentziari buruzko ezagutzak aplikatzeko gaitasuna, egiturak dimentsionatzeko indarrean dauden arauak kontuan hartuta eta kalkulu metodo analitikoak eta zenbakizkoak erabiliz.

M02CM03- Eraikuntza materialen ezagutzak sistema estrukturaletan aplikatzeko gaitasuna. Materialen egituraren eta haren propietate mekanikoen arteko erlazioa ezagutzea.



Zeharkako konpetentziak:

MEC1: Ikasleek frogatzea bigarren mailan landutako gaiak ikasi eta ulertu dituztela, aurretik zekitenetik abiaturik.

MEC2: Bigarren mailako gaien problema espezifikoak modu arrazoituan eta lehen mailan eskuratutako ezagutzetatik abiatuta ebaztea.

MEC3: Problemak ebazteko datu pertinenteak bildu eta interpretatzea, eta ebazpena justifikatzen jakitea, alde zientifiko-teknikoak kontuan hartuta.

MEC4: Ideia eta iritziak eta irakasgaiekin zerikusia duten gai espezifikoak zuzen eta garbi adieraztea idatziz.

MEC5: Oinarrizko gaiei buruzko ezagutzatik abiatuta, gai da aurrera egiteko eta arlo berrietako ezagutzak bereganatzeko.

Tentsioen ikasketara sarrera. Tentsioa, tentsio nagusiak, tentsio egoera laua, tentsio egoera orokorra.

Deformazioak eta erlazio konstitutiboak. Deformazioak eta tentsio-deformazio erlazioak. Estentsometria.

Hutsegite irizpideak. Teoria klasikoen deskribapena eta egituren diseinurako sarrera.

Materialen erresistentziara sarrera. Hipotesi eta oinarrizko printzipioak. Isostatismo eta hiperestatismoa. Masen geometria.

Barne esfortzuak. Barne esfortzuen zehaztapena, hitzarmena eta adierazpen grafikoa.

Esfortzu axiala. Tentsio eta deformazioen analisia. Problema hiperestatikoen ebazpena.

Tentsioak makurduran. Tentsioen kalkulua makurdura hutsean, sinplean, konposatuan eta desbideratuan.

Deformazioak makurduran. Elastikaren ekuazioa. Mohr-en teoremak. Problema hiperestatikoak.

Bihurduraren ikasketara sarrera. Tentsio eta deformazioak bihurduran. Hiperestatismoa.

Gilborduraren ikasketara sarrera. Euler-en formula. Lerdentasun kontzeptua. Diseinu oinarriak.

Egituren analisirako metodo energetikoak. Deformazio energia. Teorema energetikoak. Egituren analisirako aurkezpena.

Metodo matrizialak eta EFMa egituretan. Zurruntasun eta malgutasun metodoa, EFMa. Ordenagailu bidezko analisia.

Klase magistraletan irakasleek irakasgaiari buruzko azalpenak emango ditu. Gelako praktiketan ariketak egingo dira. Ordenagailuko praktiketan, egiturak ebazterako orduan ordenagailua tresna moduan erabiltzeko beharrezkoak diren kontzeptuak azalduko dira, eta ariketa praktikoak egingo dira. Laborategiko praktiketan, ikasleek egiturei buruzko esperientzi praktikoak burutuko dituzte.



"Osasun-baldintzek irakaskuntza-jarduera edota ebaluazio presentziala egitea eragozten badute, modalitate ez-presentzial bat edo jardueren atzerapen bat aktibatuko da, egoeraren arabera, eta ikasleei unean-unean emango zaie horren berri."

"Osasun-baldintzek irakaskuntza-jarduera edota ebaluazio presentziala egitea eragozten badute, modalitate ez-presentzial bat edo jardueren atzerapen bat aktibatuko da, egoeraren arabera, eta ikasleei unean-unean emango zaie horren berri."





OHIKO DEIALDIA

a. Ebaluazio jarraia:



Zeharkako Partziala PT-Parcial transversal: %24ko pisua. 5. gairaino (barne) emandako materia ebaluatuko da. Gai horiek zeharkakotzat jotzen dira, eta, beraz, gai horiek menderatzea beharrezkoa izango da irakasgai osorako. Azterketa Azaroaren 30etik - Abenduaren 4ra doan astean egingo da.



Partzial_1 (P1): pisua %28. 2021eko martxoaren 22ko astea. Zati horretan gutxienez lau (4) puntuko nota lortu beharko da hamarretik (10), gainerako kalifikazioekin batez bestekoa egiteko (PT, P2, PL eta PO). Ebaluatu beharreko gaiak: zeharkako gaiak eta 6,7 eta 8 gaiak.



Materia liberatu duenak irakasgaiaren gainerako materiari buruzko azterketa egingo du ohiko deialdiaren azterketa-egunean (zeharkako gaiak barne), beste azterketa baten bidez: Partzial_2 (P2), azken notaren % 28ko pisuarekin. Bigarren azterketa honetan hamarretik (10) lau (4) puntuko gutxieneko nota lortu beharko da, gainerako kalifikazioekin batez bestekoa egiteko. Bestela, aktan jasoko den nota P1 eta P2 arteko kalifikaziorik txikiena izango da. Bigarren azterketa honetan laborategiko praktikei (PL) eta ordenagailuko praktikei (PO) buruzko galderak egingo dira.



Liberatu ez duenak bi parteen azterketa egin beharko du ohiko-deialdiaren azken azterketaren datan (1. eta 2. partzialak), eta bakoitzak %28ko pisua izango du. 4 Puntuko kalifikazioa lortu behar da zati bakoitzean, laborategiko praktiketan eta ordenagailuko praktiketan lortutako kalifikazioarekin batez bestekoa egiteko.





PRAKTIKAK

Laborategia: %10

Ordenagailua: %10



ARGIBIDEAK:

Edonola ere, ikasleek laborategiko praktikei eta ordenagailuko praktikei dagozkien jarduerak egin beharko dituzte, eta, guztira, %20ko pisua izango dute.



Kalifikazioaren kalkulua:



P1>4 eta P2>4 bada:



Kalifikazioa: PT* 0,24+P1* 0,28+P2* 0,28+PL* 0,1+PO* 0,1



P1 < 4 eta/edo P2 < 4 bada



Kalifikazioa: kalifikaziorik txikiena P1 eta P2 artean



Uko egitea: ohiko deialdiaren egunean egingo den azterketara ez aurkezteak deialdiari uko egitea dakar (bai materia liberatu duten ikasleentzat, bai materia liberatu ez duten ikasleentzat).





b. Ebaluazio jarraiari uko egiten fioten Ikasleak



PT zeharkako edukien azterketa egiteari uko egin nahi dioten ikasleek azterketa hori egin aurreko astean jakinarazi beharko dute, eta, beraz, uko egingo liokete azterketa partzialen bidezko ebaluazioari, hau da, ebaluazio jarraituari.



Kasu honetan, ohiko deialdiaren egunean, azterketa finalak izango dituen bi parteak egin beharko dituzte. Parte hauen edukia 1. eta 2. partzialetarako adierazitakoa izango dira, hurrenez hurren, eta bakoitzak % 40ko pisua izango du. Laborategiko eta ordenagailuko praktiketan lortutako kalifikazioarekin batez bestekoa egiteko, 4,5eko kalifikazioa lortu beharko da azterketaren zati bakoitzean. Bestela, aktaren kalifikazioa P1 eta P2 artean lortutako kalifikaziorik txikiena izango da.





Kalifikazioaren kalkulua:



P1>4,5 eta P2>4,5 bada:



Kalifikazioa: P1*0,4+P2*0,4+PL*0,1+PO*0,1



P1<4,5 eta/edo P2<4,5 bada:



Kalifikazioa: kalifikaziorik txikiena P1 eta P2 artean



Praktikak:

Laborategia: %10

Ordenagailua: %10





UKO EGITEA: ohiko deialdiko datan egingo den azterketara ez aurkezteak deialdiari uko egitea dakar

Klaseko apunteak

Oinarrizko bibliografia

- Gere, J, Timoshenko, S.P. Mecánica de Materiales. 4ª Ed. Thomson. 1998.

- Hibbeler, R.C., Mechanics of Materials. Prentice Hall, 2005

- Vázquez F., M. Resistencia de Materiales. Ed. Noela. Madrid. 1994



- Andoni Sarriegi. Materialen erresistentzia I. Elhuyar. 1989

- Andoni Sarriegi. Materialen erresistentzia II. Elhuyar. 1989

- Ruben Ansola. Elastikotasunaren teoria eta materialen erresistentzia. UEU 2005

Gehiago sakontzeko bibliografia

- Boresi, A.et al. Advanced mechanics of materials. 5ª Ed. Wiley & sons. 1993
- Benham, P.P., Crawford, R.J. Mechanics of engineering materials. 2ª Ed. Prentice Hall, 1996

Aldizkariak