Gaia
Karakterizazio Kimiko-fisikorako eta Estrukturalerako Teknikak
Gaiari buruzko datu orokorrak
- Modalitatea
- Ikasgelakoa
- Hizkuntza
- Gaztelania
Irakasgaiaren azalpena eta testuingurua
Se abordan las técnicas de caracterización de la estructura, espectroscópicas, difracción, microscopía, análisis térmico, análisis de superficies y películas delgadas y técnicas de caracterización de propiedades mecánicas.Gaitasunak
Izena | Pisua |
---|---|
Conocimiento y capacidad para proyectar, calcular y diseñar sistemas integrados de fabricación. | 25.0 % |
Capacidad para el análisis y diseño de procesos químicos. | 25.0 % |
Conocimiento y capacidades para el proyectar y diseñar instalaciones eléctricas y de fluidos, iluminación, climatización y ventilación, ahorro y eficiencia energética, acústica, comunicaciones, domótica y edificios inteligentes e instalaciones de Seguridad. | 25.0 % |
Conocimientos y capacidades para realizar verificación y control de instalaciones, procesos y productos. | 25.0 % |
Irakaskuntza motak
Mota | Ikasgelako orduak | Ikasgelaz kanpoko orduak | Orduak guztira |
---|---|---|---|
Magistrala | 22.5 | 37 | 59.5 |
Gelako p. | 12.5 | 10.5 | 23 |
Laborategiko p. | 10 | 20 | 30 |
Irakaskuntza motak
Izena | Orduak | Ikasgelako orduen ehunekoa |
---|---|---|
Eskola magistralak | 59.5 | 38 % |
Gelako praktikak | 23.0 | 54 % |
Laborategiko praktikak | 30.0 | 33 % |
Ebaluazio-sistemak
Izena | Gutxieneko ponderazioa | Gehieneko ponderazioa |
---|---|---|
Idatzizko azterketa | 50.0 % | 50.0 % |
Lan praktikoak | 20.0 % | 20.0 % |
OTROS | 30.0 % | 30.0 % |
Ohiko deialdia: orientazioak eta uko egitea
La nota final de la asignatura está dividida en tres partes:- 50% de la nota final: evaluación del examen escrito
- 30% de la nota final: evaluación de los seminarios
- 20% de la nota final: evaluación de las prácticas de laboratorio.
EVALUACIÓN CONTINUA
Para aprobar la asignatura es necesario:
• Examen Escrito: Obtener un 5 sobre 10; las notas de las distintas partes deben estar compensadas y que queda a criterio del profesor dicha estimación.
• Prácticas de laboratorio: Obtener un 5 sobre 10
• Seminarios: Obtener un 5 sobre 10
EVALUACIÓN FINAL
El sistema de evaluación final se llevará a cabo mediante un examen escrito final que consta de tres partes: evaluación del examen escrito, evaluación de las prácticas de laboratorio y evaluación de seminarios.
Renuncia: la no presentación a la prueba fijada en la fecha oficial de exámenes supondrá la renuncia automática a la convocatoria ordinaria.
Ezohiko deialdia: orientazioak eta uko egitea
La nota final de la asignatura está dividida en tres partes:- 50% de la nota final: evaluación del examen escrito
- 30% de la nota final: evaluación de los seminarios
- 20% de la nota final: evaluación de las prácticas de laboratorio.
Para aprobar la asignatura es necesario:
• Examen Escrito: Obtener un 5 sobre 10; las notas de las distintas partes deben estar compensadas y que queda a criterio del profesor dicha estimación.
• Prácticas de laboratorio: Obtener un 5 sobre 10
• Seminarios: Obtener un 5 sobre 10
Examen escrito final que consta de tres partes: evaluación del examen escrito, evaluación de las prácticas de laboratorio y evaluación de seminarios.
Renuncia: la no presentación a la prueba fijada en la fecha oficial de exámenes supondrá la renuncia automática a la convocatoria extraordinaria.
Irakasgai-zerrenda
Tema 1. Introducción. Definiciones previas. Clasificación de las técnicas de caracterización.Muestreo. Técnicas de preparación de muestras. Evaluación de resultados.
Tema 2. Métodos y técnicas de difracción. Introducción. Difracción de rayos X, neutrones y electrones.
Tema 3. Microscopía. Microscopía óptica. Microscopía electrónica: barrido y transmisión.
Microscopía de efecto túnel, microscopía de fuerza atómica.
Tema 4. Técnicas de análisis térmico. Termogravimetría. Análisis térmico diferencial y calorimetría diferencia de barrido. Análisis termomecánico y térmico dinámico mecánico.Propiedades reológicas. Caracterización de materiales fundidos.
Tema 5. Espectroscopia. Espectroscopía infrarroja y Raman. Espectroscopía ultravioleta-visible (uv-vis) y fluorescencia. Resonancia magnética nuclear y paramagnética de espín electrónico.
Tema 6. Técnicas de análisis de superficies y películas delgadas. Técnicas de absorción. Espectroscopía de electrones: fotoelectrones y electrones auger. Espectroscopía con haces de iones: secundarios, retrodispersión rutherford. Otras técnicas de análisis de superficies.
Tema 7. Propiedades mecánicas. Ensayos tracción, flexión, compresión. Ensayos dureza. Tenacidad a fractura.
Bibliografia
Oinarrizko bibliografia
- W. D. Callister Jr. Introducción a la ciencia e Ingeniería de los materiales. Ed. Reverté. (1995).- D.A. Skoog, J.J. Leary, "Análisis Instrumental", McGraw-Hill, Madrid (1996).
- B. Wunderlich. Thermal analysis . Academic Press, Inc. (1990).
- E. Lifshin, Ed. X-ray characterization of materials. Wiley (1999).
- D.B. Williams, C. B. Carter. Transmission electron microscopy : a textbook for materials science. Plenum
Press (1996).
Gehiago sakontzeko bibliografia
- L. Reimer. Scanning electron microscopy : Physics of image formation and microanalysis. Springer-Verlag(1985)
- S.J.B. Reed. Electron microprobe analysis, 2 nd. ed. Cambridge Univ. Press (1993).
- P. Haasen. Physical Metallurgy . 2ª edición. Cambridge University Press. (1986).
- Eberhart, J.P.: Structural and chemical analysis of materials. John Wiley & Sons, 1991
- Llorente Uceta, M.A.; Horta Zubiaga, A.: Técnicas de caracterización de polímeros. UNED, 1991
- T. Hahn ed., International Tables for Crystallography . Vol. A: Space-Group Symmetry. Kluwer Academic
Pub., Dordrecht, (1995).
- Cahn, R.W.; Haasen, P.; Kramer, E.J.: Materials science and technology: a comprehensive treatment. Vol. 2A y 2B VCH, 1992-4