Gaia

XSLaren edukia

Karakterizazio Kimiko-fisikorako eta Estrukturalerako Teknikak

Gaiari buruzko datu orokorrak

Modalitatea
Ikasgelakoa
Hizkuntza
Gaztelania

Irakasgaiaren azalpena eta testuingurua

Se abordan las técnicas de caracterización de la estructura, espectroscópicas, difracción, microscopía, análisis térmico, análisis de superficies y películas delgadas y técnicas de caracterización de propiedades mecánicas.

Gaitasunak

IzenaPisua
Conocimiento y capacidad para proyectar, calcular y diseñar sistemas integrados de fabricación.25.0 %
Capacidad para el análisis y diseño de procesos químicos.25.0 %
Conocimiento y capacidades para el proyectar y diseñar instalaciones eléctricas y de fluidos, iluminación, climatización y ventilación, ahorro y eficiencia energética, acústica, comunicaciones, domótica y edificios inteligentes e instalaciones de Seguridad.25.0 %
Conocimientos y capacidades para realizar verificación y control de instalaciones, procesos y productos.25.0 %

Irakaskuntza motak

MotaIkasgelako orduakIkasgelaz kanpoko orduakOrduak guztira
Magistrala22.53759.5
Gelako p.12.510.523
Laborategiko p.102030

Irakaskuntza motak

IzenaOrduakIkasgelako orduen ehunekoa
Eskola magistralak59.538 %
Gelako praktikak23.054 %
Laborategiko praktikak30.033 %

Ebaluazio-sistemak

IzenaGutxieneko ponderazioaGehieneko ponderazioa
Idatzizko azterketa50.0 % 50.0 %
Lan praktikoak20.0 % 20.0 %
OTROS30.0 % 30.0 %

Ohiko deialdia: orientazioak eta uko egitea

La nota final de la asignatura está dividida en tres partes:

- 50% de la nota final: evaluación del examen escrito

- 30% de la nota final: evaluación de los seminarios

- 20% de la nota final: evaluación de las prácticas de laboratorio.



EVALUACIÓN CONTINUA

Para aprobar la asignatura es necesario:

• Examen Escrito: Obtener un 5 sobre 10; las notas de las distintas partes deben estar compensadas y que queda a criterio del profesor dicha estimación.

• Prácticas de laboratorio: Obtener un 5 sobre 10

• Seminarios: Obtener un 5 sobre 10

EVALUACIÓN FINAL

El sistema de evaluación final se llevará a cabo mediante un examen escrito final que consta de tres partes: evaluación del examen escrito, evaluación de las prácticas de laboratorio y evaluación de seminarios.

Renuncia: la no presentación a la prueba fijada en la fecha oficial de exámenes supondrá la renuncia automática a la convocatoria ordinaria.



Ezohiko deialdia: orientazioak eta uko egitea

La nota final de la asignatura está dividida en tres partes:

- 50% de la nota final: evaluación del examen escrito

- 30% de la nota final: evaluación de los seminarios

- 20% de la nota final: evaluación de las prácticas de laboratorio.

Para aprobar la asignatura es necesario:

• Examen Escrito: Obtener un 5 sobre 10; las notas de las distintas partes deben estar compensadas y que queda a criterio del profesor dicha estimación.

• Prácticas de laboratorio: Obtener un 5 sobre 10

• Seminarios: Obtener un 5 sobre 10

Examen escrito final que consta de tres partes: evaluación del examen escrito, evaluación de las prácticas de laboratorio y evaluación de seminarios.



Renuncia: la no presentación a la prueba fijada en la fecha oficial de exámenes supondrá la renuncia automática a la convocatoria extraordinaria.

Irakasgai-zerrenda

Tema 1. Introducción. Definiciones previas. Clasificación de las técnicas de caracterización.

Muestreo. Técnicas de preparación de muestras. Evaluación de resultados.



Tema 2. Métodos y técnicas de difracción. Introducción. Difracción de rayos X, neutrones y electrones.



Tema 3. Microscopía. Microscopía óptica. Microscopía electrónica: barrido y transmisión.

Microscopía de efecto túnel, microscopía de fuerza atómica.



Tema 4. Técnicas de análisis térmico. Termogravimetría. Análisis térmico diferencial y calorimetría diferencia de barrido. Análisis termomecánico y térmico dinámico mecánico.Propiedades reológicas. Caracterización de materiales fundidos.



Tema 5. Espectroscopia. Espectroscopía infrarroja y Raman. Espectroscopía ultravioleta-visible (uv-vis) y fluorescencia. Resonancia magnética nuclear y paramagnética de espín electrónico.



Tema 6. Técnicas de análisis de superficies y películas delgadas. Técnicas de absorción. Espectroscopía de electrones: fotoelectrones y electrones auger. Espectroscopía con haces de iones: secundarios, retrodispersión rutherford. Otras técnicas de análisis de superficies.



Tema 7. Propiedades mecánicas. Ensayos tracción, flexión, compresión. Ensayos dureza. Tenacidad a fractura.

Bibliografia

Oinarrizko bibliografia

- W. D. Callister Jr. Introducción a la ciencia e Ingeniería de los materiales. Ed. Reverté. (1995).

- D.A. Skoog, J.J. Leary, "Análisis Instrumental", McGraw-Hill, Madrid (1996).

- B. Wunderlich. Thermal analysis . Academic Press, Inc. (1990).

- E. Lifshin, Ed. X-ray characterization of materials. Wiley (1999).

- D.B. Williams, C. B. Carter. Transmission electron microscopy : a textbook for materials science. Plenum

Press (1996).

Gehiago sakontzeko bibliografia

- L. Reimer. Scanning electron microscopy : Physics of image formation and microanalysis. Springer-Verlag

(1985)

- S.J.B. Reed. Electron microprobe analysis, 2 nd. ed. Cambridge Univ. Press (1993).

- P. Haasen. Physical Metallurgy . 2ª edición. Cambridge University Press. (1986).

- Eberhart, J.P.: Structural and chemical analysis of materials. John Wiley & Sons, 1991

- Llorente Uceta, M.A.; Horta Zubiaga, A.: Técnicas de caracterización de polímeros. UNED, 1991

- T. Hahn ed., International Tables for Crystallography . Vol. A: Space-Group Symmetry. Kluwer Academic

Pub., Dordrecht, (1995).

- Cahn, R.W.; Haasen, P.; Kramer, E.J.: Materials science and technology: a comprehensive treatment. Vol. 2A y 2B VCH, 1992-4

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Iradokizunak eta eskaerak