Gaia
Teknika esperimentalak RF eta mikrouhinetan
Gaiari buruzko datu orokorrak
- Modalitatea
- Ikasgelakoa
- Hizkuntza
- Ingelesa
Irakasgaiaren azalpena eta testuingurua
Comprender los fundamentos de las técnicas y sistemas de medición de RF y microondas. Adquirir práctica en el uso de equipos de microondas.Irakasleak
| Izena | Erakundea | Kategoria | Doktorea | Irakaskuntza-profila | Arloa | Helbide elektronikoa |
|---|---|---|---|---|---|---|
| BADILLO FERNANDEZ, INARI | Euskal Herriko Unibertsitatea | Irakaslego Agregatua | Doktorea | Elebiduna | Elektronika | inari.badillo@ehu.eus |
| COLLANTES METOLA, JUAN MARIA | Euskal Herriko Unibertsitatea | Unibertsitateko Katedraduna | Doktorea | Elebakarra | Elektronika | juanmari.collantes@ehu.eus |
| OTEGI URDANPILLETA, NEREA | Euskal Herriko Unibertsitatea | Irakaslego Agregatua | Doktorea | Elebiduna | Elektronika | nerea.otegi@ehu.eus |
Irakaskuntza motak
| Mota | Ikasgelako orduak | Ikasgelaz kanpoko orduak | Orduak guztira |
|---|---|---|---|
| Magistrala | 20 | 25 | 45 |
| Laborategiko p. | 25 | 42.5 | 67.5 |
Irakaskuntza motak
| Izena | Orduak | Ikasgelako orduen ehunekoa |
|---|---|---|
| Gela/Mintegia/Tailerra | 20.0 | 100 % |
| Laborategia/Landa | 25.0 | 100 % |
| Lan autonomoa | 67.5 | 0 % |
Ebaluazio-sistemak
| Izena | Gutxieneko ponderazioa | Gehieneko ponderazioa |
|---|---|---|
| Idatzizko azterketa | 40.0 % | 60.0 % |
| Material teorikoak praktiketan aplikatzea | 40.0 % | 60.0 % |
Irakasgaia ikastean lortuko diren emaitzak
Ezagutzak edo edukiak:RCO4 - Goi-maiztasuneko ezaugarritze-ekipoak ulertzea eta maneiatzea.
Gaitasunak:
RC1 - Goi-maiztasuneko zirkuitu pasiboak eta aktiboak aztertzeko gai izatea.
Trebetasunak:
RHE1 - Analitikoki pentsatzeko gai izatea.
RHE2 - Arazo teknikoak aztertzeko eta konpontzeko gai izatea.
RHT2 - Hainbat aplikaziotarako goi-maiztasuneko gailu pasiboak diseinatzeko eta ezaugarritzeko gai izatea.
RHT4 - RF eta mikrouhinak neurtzeko oinarrizko ekipoekin modu praktikoan lan egiteko gai izatea.
Irakasgai-zerrenda
1 - Revisión de las figuras de mérito a nivel de circuito y a nivel de sistema.2 - Instrumentos básicos: Medidores de potencia, Analizadores de espectro, Analizadores vectoriales de señales, Analizadores vectoriales de redes, Analizadores vectoriales de redes no lineales, Osciloscopios y medidas en el dominio del tiempo y Medidores de figura de ruido.
3 - Instrumentación modular.
4 - Setups de medida (medidas IMD, Load-Pull activo y pasivo, I-V pulsado, etc.).
Bibliografia
Oinarrizko bibliografia
- N. Borges, D. Schreurs, Microwave and Wireless Measurement Techniques, Cambridge University Press, 2013- V. Teppati, A. Ferrero, M. Sayed, Modern RF and Microwave Measurement Techniques, Cambridge University Press, 2013
- R.J. Collier and A.D. Skinner (Ed.), Microwave Measurements, IET, 2007, London.
- Exploring the Architectures of VNAs, Agilent Application Note 1287-2.
- Applying Error Correction to Network Analyzer Measurements, Agilent Application Note 1287-3.