Irakasgaiaren azalpena eta testuingurua

Irakasgai honen bitartez ikasleak, aplikazio-elementu gisa argiak industriako esparru desberdinetan eskaintzen dituen aukerak eta ahalmenak ikasiko ditu. Telekomunikazio-sektoretik haratago, oro har industria eta medikuntza bezalako esparruak aztertuko dira.

Ohiko deialdia: orientazioak eta uko egitea

Nota osoa hiru ataletan bananduta dago:

- Nota osoaren % 35a: idatzizko azterketaren ebaluazioa.

- Nota osoaren % 50a: laborategi lanaren ebaluazioa.

- Nota osoaren % 15a: ikerketa-lan esperimentala.



Ebaluaketa sistema hiru atal independenteetan banatuta dago: magistrala (MAG), laborategia (LAB), eta ikerketa lan esperimentala (LE). MAG atala bakarka lantzen da, beste bi atalak taldeka (binakako taldeetan).



MAG atala galdera laburrez osatutako bakarkako idatzizko froga batean ebaluatzen da (% 35).



LAB atalean taldeko notak egongo dira. Taldeko notaren lehenengo zatia (% 25) kurtsoan zehar entregatutako txostenetan lortutakoa izango da, eta ganierako zatia (% 25) lortzeko, txostenetariko batean garatutako lanaren hedapen baten bitartez lortu ahal izango da.



LE atalean taldeko nota jarriko da. Nota horrek bi zati izango ditu, entregatutako artikulua (% 10) eta lanaren ahozko aurkezpena (% 5).



Ohiko deialdian MAG eta LAB ataleko bakarkako frogak gainditu behar dira 5/10 gutxieneko notarekin, eta irakasgaia gainditzeko azken notak 5/10etik gora egon behar du behin nota guztiak batuta. MAG, LAB eta TE atalak elkarren independienteak dira, eta gainditzen den atal bakoitzaren nota hurrengo deialdietarako mantenduko da.



UKO EGITEA:



Ebaluaketa mistoa jarraitu ezin duten ikasleek arrazoiak dokumentu bidez justifikatu behar dituzte irakasle taldearen aurrean, egungo araudian indarrean dagoenari jarraituz. Irakasgaiaren ikasketa emaitzak lortu dituztela egiaztatzeko azken froga bat egingo dute, hurrengo atalez osatuta egongo dena: (1) idatzizko azterketa (%35), (2) laborategiko azterketa (%50), eta (3) ikerkuntza-lan bat (%15).



Ikaslea MAG eta LAB azken idatzizko froga bietara aurkezten ez bada, ikasleak deialdiari uko egin diola ulertuko da.

Ezohiko deialdia: orientazioak eta uko egitea

Ezohiko deialdian bi froga egingo dira: MAG ataleko froga eta LAB ataleko froga. Nota osoa ondoko eran bananduta dago:

- Nota osoaren % 40a: idatzizko azterketaren ebaluazioa.

- Nota osoaren % 60a: laborategiko praktiken ebaluazioa.



Irakasgaia gainditzeko beharrezkoa da:

- 5 puntu edo gehiago lortzea, 10en gainean, idatzizko azterketan

eta

- 5 puntu edo gehiago lortzea, 10en gainean, ordenagailuko praktiketan.



Idatzizko azterketaren ebaluazioa:

- Ohiko deialdian idatzizko azterketan 5 puntu edo gehiago lortzen duten ikasleentzat:

* Ohiko deialdiko idatzizko azterketaren nota berreskuratzeko aukera izango dute idatzizko azterketa berriro egin beharrik gabe.

- Aurreko baldintza betetzen ez duten ikasleentzat:

* Idatzizko azterketa azken ebaluazio proba egiteko ordu ofizialean: problema- eta/edo kuestio-sorta.



Laborategiko praktiken ebaluazioa:

- Ohiko deialdian laborategiko praktiketan 5 puntu edo gehiago lortzen duten ikasleentzat:

* Ohiko deialdiko laborategiko praktiken nota berreskuratzeko aukera izango dute azterketa praktikoa egin beharrik gabe.

- Aurreko baldintza betetzen ez duten ikasleentzat:

* Azterketa praktikoa idatzizko azterketaren ondoren (azken ebaluazio proba egiteko egun ofizialean).



Uko egitea: azterketa egun ofizialean egin beharreko probara ez aurkezte hutsak ekarriko du automatikoki ezohiko deialdiari uko egitea.

Irakasgai-zerrenda

FOTONIKA INDUSTRIAN. SARRERA

LASERRAK

SENTSORE OPTIKOAK

NANOFOTONIKA

METROLOGIA OPTIKOA

INDUSTRIA-APLIKAZIOAK

BIOMEDIKUNTZA-APLIKAZIOAK

GARRAIO-APLIKAZIOAK

SEGURTASUNA

BESTE APLIKAZIO BATZUK

Bibliografia

Nahitaez erabili beharreko materiala

- Saleh, B. E. A., M.C. Teich, Fundamental of photonics, 2nd Edition, Wiley, 2001.



- H. A. Haus, Waves and Fields in Optoelectronics



- GHATAK, K. THYAGARAJAN, "Introduction to Fiber Optics", Cambridge University Press, 1998.



- DENNIS DERICKSON, "Fiber optic test and measurement", Prentice Hall, 1998.



- G. AGRAWAL, "Lightwave Technology", Willey, 2005



- S. O. Kasap, Optoelectronics, Prentice Hall,1999



- Toru Yoshizawa, Handbook of Optical Metrology: Principles and Applications, CRC Press, 2009

Oinarrizko bibliografia

-Jörg Haus, Optical Sensors: Basics and Applications, Wiley, 2010

- Francis T.S. Yu (Editor), Shizhuo Yin (Editor), Paul B. Ruffin (Editor), Fiber Optic Sensors, Second Edition (Optical Science and Engineering), CRC, 2008

- Paras N. Prasad , Introduction to Biophotonics by (Apr 8, 2003)

Gehiago sakontzeko bibliografia

- Sennaroglu Photonics and Laser Engineering: Principles, Devices, and Applications by Alphan (May 21, 2010), McGraw-Hill



- Stavros Iezekiel Microwave Photonics: Devices and Applications (Wiley - IEEE) by (Oct 20, 2009)



- William L. Dahl, Photonic Crystals: Optical Properties, Fabrication and Applications (Jan 2011), Nova Publishers

Aldizkariak

- Nature Photonics



- Optical Engineering



- Journal of optics



-Nanophotonics



- Optics and laser technology



- Journal of Biomedical Optics



- Optics Express



- Applied Optics



- Journal of Lightwave Technology



- Senors



- Nature



- Science

Estekak

- http://www.photonics.com/



- http://www.photonicsonline.com/



- http://www.opticseducation.org/



- http://www.osa.org/



- http://spie.org/



- http://www.opticsnotes.com/



- http://www.esourceoptics.com/photonics.html



- http://www.photonicssociety.org/



- http://www.rp-photonics.com/