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Gaia

XSLaren edukia

Atzera

Erdieroaleak fabrikazioan karakterizatzeko laborategia

Gaiari buruzko datu orokorrak

Modalitatea
Ikasgelakoa
Hizkuntza
Gaztelania

Irakasleak

IzenaErakundea
AZKONA ESTEFANIA, NEKANEEuskal Herriko Unibertsitatea
JIMENO CUESTA, JUAN CARLOSEuskal Herriko Unibertsitatea
OTAEGI AIZPEOLEA, ALOÑAEuskal Herriko Unibertsitatea

Gaitasunak

Competencia para caracterizar dispositivos semiconductores a lo largo de su proceso de fabricaciónCompetencia para el manejo de instrumentación científica avanzada

Ikasgai-zerrenda eta bibliografia

  • Resistencias de capa, de línea y de contacto
    • Bibliografia:Manuales de equipos en laboratorio y papers científicos de cada técnica
  • Elipsometría
    • Bibliografia:Manuales de equipos en laboratorio y papers científicos de cada técnica
  • Microscopía óptica (convencional y confocal)
    • Bibliografia:Manuales de equipos en laboratorio y papers científicos de cada técnica
  • Caracterización I-V y C-V
    • Bibliografia:Manuales de equipos en laboratorio y papers científicos de cada técnica
  • Evaluación de tiempos de vida
    • Bibliografia:Manuales de equipos en laboratorio y papers científicos de cada técnica
  • Técnicas de luminiscencia
    • Bibliografia:Manuales de equipos en laboratorio y papers científicos de cada técnica

XSLaren edukia

Iradokizunak eta eskaerak