MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA Y MICROANÁLISIS DE MATERIALES

Equipamiento

  • Microscopio electrónico de barrido con filamento de W (JEOL JSM-6400) y resolución de 3.5nm (en modo electrones secundarios y a 30KV). Incluye:
    • Detector de electrones secundarios (información topográfica),
    • Detector de electrones retrodispersados (información cualitativa composicional y de desorientación cristalina),
    • Detector EDX INCA X-sight Serie Si(Li) pentaFET de Oxford con ventana (información microanalítica a partir del Be) y sistema de adquisición y tratamiento INCA energy 350 que permite análisis puntuales, en línea y mapa
    • 2 espectrómetros WDX con 2 cristales cada uno de JEOL (información cualitativa y cuantitativa microanalítica),
    • Adquisición de imágenes digital Orion,
    • Platina especial para poder trabajar con iluminación por transparencia como en una microsonda.
    • Se dispone de patrones para el microanálisis cuantitativo de numerosos materiales y minerales.

 

  • Microscopio electrónico de barrido  de emisión de campo tipo Schottky (JEOL JSM-7000F). Resolución en electrones secundarios de 1.2nm a 30KV y de 3nm a 1 KV. Resolución de 3nm en electrones retrodispersados a 15KV y 10mm de distancia de trabajo. El voltaje de aceleración es variable entre 0.5KV y 30KV y la corriente del haz lo es entre 1 picoA y 200nA. Incluye:
    • Detector de electrones secundarios (información topográfica),
    • Detector de electrones retrodispersados (información cualitativa composicional y de desorientación cristalina),
    • Detector EDX INCA X-sight Serie Si(Li) pentaFET de Oxford con ventana (información microanalítica a partir del Be) y sistema de adquisición y tratamiento INCA energy 350 que permite análisis puntuales, en línea y mapa
    • Detector de EBSD Nordlys II HKL premium (información cristalográfica). Están incluidos en el software Channel 5 tanto las bases de datos HKL, PDF2, geological  y NISTcomo los software de adquisición y tratamiento : Twist, Mambo, Tango, Salsa, Flamenco, Map  Stitcher
    • Se dispone de patrones para el microanálisis cuantitativo de numerosos materiales y minerales.
    • Software GSR para el análisis de partículas de disparo.

 

  • Microscopio electrónico de transmisión con filamento de hexaboruro de lantano y con pieza polar supertwin (Philips CM200). Resolución punto a punto de 0.235nm y máxima inclinación de ±40º. Incluye:
    • Detector EDX de EDAX con resolución de 137 eV (microanálisis puntual).
    • Dos portamuestras de doble inclinación, uno de grip y el otro con tornillo
    • Dos portamuestras de simple inclinación, uno de ellos de Be para microanálisis
    • Una cámara digital Megaview III de rápida adquisición
    • Una cámara digital inferior de alta resolución (4Kx4K) y alta sensibilidad

 

  • MEB-FIB (FEI Helios Nanolab 650). Resolución en el punto de coincidencia de 4.5nm. Corriente del haz de iones hasta 65nA. Incluye:
    • 5 inyectores de gases para la deposición de: Pt, W, C, un aislante (TEOS) y un gas de ataque (XeF2).
    • Micromanipulador Omniprobe Autoprobe 200.2 para la extracción de lamelas
    • Detectores de electrones secundarios y electrones retrodispersados para adquirir con electrones la imagen de la superficie de la muestra.
    • Detector de iones que puede adquirir tanto la imagen dada por los iones como por los electrones secundarios.
    • Detector STEM (Da la imagen en transmisión de las muestras adelgazadas con el haz de iones).
    • Sistema de microanálisis EDX Aztec Energy 350 con detector seco de Oxford cuya resolución es de 124eV (permite el microanálisis de las muestras).
Imagen
  • Microscopio electrónico de ultra-alta resolución de emisión de campo tipo Schottky X-FEG (FEI Titan Cubed G2 60-300 con monocromador y corrector de aberraciones CEOS, hasta el tercer orden, en la lente objetivo supertwin) que trabaja tanto en modo transmisión como en barrido-transmisión. Resolución punto a punto ≤ 0.07nm a 300KV y ≤ 0.11nm a 80KV. Resolución en modo STEM ≤ 0.136nm a 300KV. Resolución en energía ≤ 0.3eV. inclinación en a de ± 35º y en b de ± 30º Incluye:
    • Alineamientos a 80, 200 y 300KV.
    • Cámara Gatan US1000XP-P de 2Kx2K.
    • Detectores de HAADF (Fischione) y de campo claro y de campo oscuro de FEI.
    • Detector de EDX Super-X (tecnología ChemiSTEM con adquisición y procesado de datos por el software ESPRIT de Bruker).
    • Filtro de energía de Gatan Quantum ER/965 P con Cámara Gatan 2Kx2K post filtro.
    • Lente de Lorentz.
    • Portamuestras de simple adquisición.
    • Portamuestras analítico de doble inclinación.
    • Portamuestras de simple inclinación para tomografía.
    • Software de adquisición, tanto en modo TEM como en STEM, para tomografía, software INSPECT 3D para el alineamiento y la reconstrucción. Y Resolve RT de FEI para la visualización. El tratamiento de reconstrucción y visualización se hace off line en otro ordenador.
    • Sistema de adquisición de precesión de electrones.
    • Software True Image para la adquisición y reconstrucción de series de foco.

 

  • Sistemas tradicionales de preparación de muestras de barrido y transmisión
    • Pulido y adelgazamiento mecánico
    • Pulido y adelgazamiento electrolítico
    • Pulido por bombardeo iónico
    • Evaporadores de Carbono, Au y otros metales

 

  • Programas off line de tratamiento de datos : Carine, JEMS, TIA, Gatan Digital Micrograph, True Image