ESPECTROSCOPÍA FOTOELECTRÓNICA DE RAYOS X (XPS)

El Servicio de Espectroscopía Fotoelectrónica de Rayos X dispone del equipamiento necesario para la caracterización de superficies sólidas y en polvo. En el caso de muestras en polvo, el prensado de las mismas en los casos en los que sea posible mejora su manejabilidad.

Se pueden elegir diferentes tipos de análisis:

• Registro del espectro general y análisis cualitativo de la composición de la superficie.
• Registro detallado de los elementos que componen la superficie y análisis semicuantitativo de su composición.
• Registro detallado de los elementos que componen la superficie, cuantificación y análisis de los estados de oxidación de dichos elementos.
• Análisis de composición en función de la profundidad mediante bombardeo con iones Ar+.Análisis cualitativo, semicuantitativo o cuantitativo y análisis de los estados de oxidación de elementos de las distintas capas analizadas.
• Análisis de la composición de la superficie en función del ángulo de incidencia de los rayos X, que permite conocer la composición de las capas más superficiales.Análisis cualitativo, semicuantitativo o cuantitativo y análisis de los estados de oxidación de elementos de las distintas medidas en función del ángulo de incidencia.