Curso
Cursos Abril SGIker 2021
Cuándo y dónde
20/02/2021
Descripción
| Fundamentos para la caracterización de materiales mediante técnicas de Difracción de Rayos X (muestra policristalina y monocristal) y Fluorescencia de Rayos X | |
| Servicio General de Rayos X | |
| Fecha | Lugar |
| 19-23/04/2021 |
Plataforma Tecnológica Martina Casiano Campus de Bizkaia (Leioa) Universidad del País Vasco UPV/EHU |
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Para conocer todos los detalles y contenidos del curso visite la siguiente ficha Persona de contacto Dr. Francisco Javier Sangüesa Aguerri Email: franciscojavier.sanguesa@ehu.eus Tel. :94 601 3574 |
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