MAKROPORTAERA - MESOEGITURA - NANOTEKNOLOGIA

TRESNAK

TRESNAK

MIKROSKOPIA ETA GAINAZALEN KARAKTERIZAZIOA

  • Mikroskopiooptikoa (OM) Eclipse E600 (Nikon). LTZ: IzasaScientific. Eragiketa: transmisioa, islapena, argipolarizatua. Antolaketabertikala. Objetiboak: 5x, 10x, 20x eta 100x. Okularrak: 10x. Irudiak hartzeko kamera digitala. Berotzeko pletina Mettler Toledo FP82HT.
  • Mikroskopio optikoa (OM) Eclipse E80i (Nikon). SAT: IzasaScientific. Eragiketa: transmisioa, islapena, argipolarizatua, epifluoreszentzia. Antolaketa bertikala. Objetiboak: 5x, 10x, 20x eta 100x. Okularrak: 10x. Irudiak hartzeko kameradigitala.
  • Indar Atomikoaren mikroskopioa (AFM) MULTIMODE 8, Nanoscope V (Bruker). SAT: AzbilTelstar Technologies. Eskanerrak: EVLR, JV, JVH, JVHC (Rango max. Xy: 100 mikra x 100 mikra, z: 5.0 mikra). Eragiketa: kontaktua, aldizkako kontaktua (TappingModeTM), fase-irudia, indar magnetikoen mikroskopia (MFM), indar elektrostatikoen mikroskopia (EFM). Osagarriak: MFM kit-a, HeaterController.
  • Indar Atomikoko mikroskopioa (AFM) DimensionIcon Nanoscope V (Bruker). SAT: AzbilTelstar Technologies. Eskanerra: DimensionHybrid XYZ SPM Head (Rango max. Xy: 90 mikra x 90 mikra, z: 7.0 mikra). Kontrolatzailea: Nanoscope V. operazioa: kontaktua, aldizkakokontaktua (TappingModeTM), faseko irudia, indarmagnetikoen mikroskopia (MFM), indar elektrostatikoen mikroskopia (EFM), ScanAsyst ®, PeakForceTappingTM, PeakForce QNMTM. Osagarriak: MFM kit-a, Fluid Holder, PeakForce TUNATM.

 

KONPORTAMENDU FISIKO-KIMIKOA

  • Barridoko bero-neurgailu diferentziala DSC822e (Mettler Toledo). SAT: Mettler Toledo. Eragiketa: - 50°C zeren arabera (Air, N2, O2). Osagarriak: auto lagintzailea (34 lagin).
  • DSC3+ barridoaren kalorimetro diferentziala (Mettler Toledo). SAT: Mettler Toledo. Eragiketa: - 90°C/550°C) c (Air, N2, O2). Osagarriak: auto lagintzailea (34 lagin).
  • Analizatzaile dinamiko-mekaniko-termikoa (DMTA) Eplexor 100 n (Gabo Qualimeter). SAT: Netzsch. Eragiketa: trakzioa, flexioa, konpresioa (- 100°C/350°C).
  • Erlaxazio Dielektrikokoespektrometroa Alpha (DRS) (Novocontrol Technologies). LTZ: Novocontrol Technologies. Eragiketa: 0,1 Hz - 10 MHz.Osagarriak: sistema kriogenikoa.
  • Erdieroaleen analizagailua 4200 SCS (Keithley). SAT: instrumentos de Medida S.L. Operazioa: I-V, C-V. Osagarriak: punta-mahaia (Gehienez. 4).
  • PVT 100 (Haake). SAT: instrumentos Físicos Ibérica SL eragiketa: Dilatometria, eroankortasun termikoa (urtua).
  • UV-3600 espektrometroa (Shimadzu). LTZ: IzasaScientific. Eragiketa: transmitantzia, islapena. Detektagailuak: PMT, InGaAs, Pbs (185 nm-3300 nm). Osagarriak: PMT, InGaAs, Pbs, esfera integratzailea (ispilu-islapena, lausoa).
  • ZetaSizer Ultra (MalvernPanalytical). SAT: IESMAT (Instrumentación Específica de Materiales, S.A.). Eragiketa: partikulentamaina, kontzentrazioa, Z. potentziala. Osagarriak: MPT-3DEP autotitradorea.

 

KONDUKTA MEKANIKOA

  • Saiakuntza Mekanikoen Makina Unibertsala 4206 (Instron) (5900 retrofit). SAT: Instron. Eragiketa: trakzioa, flexioa, konpresioa. Gehienez 100 kN kargatzeko ahalmena.
  • Saiakuntza mekanikoen makina unibertsala 5967 (Instron). SAT: Instron. Eragiketa: trakzioa, flexioa, konpresioa. Gehienez 100 kN kargatzeko ahalmena. Osagarriak: ingurumen-kamera
  • MINIMAT miniaturazko saiakuntza mekanikoak (Rheometric Scientific). SAT: Rheometric Scientific. Eragiketa: trakzioa. Gehieneko karga-ahalmena: 200 N.

 

LAGINEN PRESTAKUNTZA

  • Laginak prestatzeko hainbate kipamendu: Ultramikrotomo Ultracut R (Leica), Spincoating P6700 (Specialty CoatingSystems), eta egokitzeko, nahasteko, ebakitzeko eta leuntzeko bestebatzuk.

 

Ekipamendua