X IZPIEN BIDEZKO ESPEKTROSKOPIA FOTOELEKTRONIKOA (XPS)

Aurkezpena

Universidad del País Vasco/Euskal Herriko Unibertsitateko X Izpien Zerbitzu Orokorraren helburua honako ezagutza arlo hauei, besteak beste, oinarrizko ikerketarako eta ikerketa aplikaturako laguntza ematea da: geologia, kimika, fisika, materialen zientzia, aeronautika, farmazia, biokimika, arkeologia, paleontologia, antropologia eta ingurumen zientziak. Horrez gain, beste zenbait arlotan ere zerbitzua eman dezake: eraikuntza, meatzaritzako azterketak, ingeniaritza zibila, etab. Zientzia, Teknologia eta Berrikuntzaren Euskal Sareko ikertzaileek, UPV/EHUtik kanpoko beste ikertzaile batzuek eta nazio mailako edo nazioarteko beste erakunde publiko nahiz pribatu batzuek ere erabil dezakete Zerbitzua.

Universidad del País Vasco/Euskal Herriko Unibertsitateko X Izpien Zerbitzu Orokorraren barneko X izpien bidezko espektroskopia fotoelektronikoko (XPS) unitateak gainazalak aztertzen ditu, bai lagin solidoetan bai hauts erako laginetan.

XPS gainazaletan dauden elementuei eta horien oxidazioari eta/edo inguruneko egoerei (koordinazioa) buruzko informazioa eskaintzen duen teknika ez suntsitzaile bat da. Horrez gain, elementuen banaketaren azterketak egiteko aukera ere ematen du, laginaren sakontasunaren arabera, modu suntsitzailean (depth profile; sakonera handiagoa har dezake) edo ez suntsitzailean (XPS, bereizmen angeluarrarekin).

XPS teknikak material mota desberdinak aztertzea ahalbidetzen du: metalak, aleazioak, material zeramikoak, polimeroak, beirak, erdieroaleak, lagin geologikoak, lagin biologiko lehorrak eta, oro har, altu hutseko sistemekin batera daitezkeen gainazal guztiak. Teknika horrek hainbat aplikazio esparru izan ditzake: atxikidura, katalisi eta korrosio azterketak; materialen gainazalen tratamendua; elektronika; metalurgia; gainazaleko jarioa; geruzen deposizio azterketak; etab.