XSLaren edukia

SGIkerreko goi mailako teknikaria - Fotoelektroien espektroskopia XPS

Eskaintza:
Bolsa de trabajo externos
Araubide juridikoa:
Lan Kontratuduna
Taldea:
1
Deialdiaren data:
2016ko apirilaren 15ean
Sartzeko era:
TXANDA LIBREA
Egoera:
Tramitatzen

Hautaketa-prozesuaren garapena

Azterketa eguna eta lekua

Azterketa eguna: 2016ko uztailaren 27an. 15:30 etan. Zientzia eta Teknologia Fakultatean, Bizkaiko Campusa. Leioa.

Oposizio fasearen behin-behineko emaitzak

Behin-behineko emaitzen argitalpen eta merezimenduak aurkezteko epea (2016ko urriaren 31tik azaroaren 7ra arte, biak barne). Lan eskaitzen atarian ikus daitezke.

Erreklamazioa aurkezteko epea 2016-10-31tik 2016-11-7ra

Oposizio fasearen behin betiko emaitzak

Opososizio faseko behin betiko puntuazioa argitaratu da. Informazioa Lan- eskaintzen atarian ikus daiteke

Azterketa eguna eta lekua

Euskara idatzizko azterketaren data eta lekua argitaratu da. Deitutakoen zerrenda Lan-eskaintzaren atarian ikus daiteke

Ahozko probetara deitutakoen zerrenda (IVAP), lekua eta data argitaratu dira. Lan-eskeintzen atarian ikus daiteke.

Euskara fasearen behin-behineko emaitzak

Euskara fasearen behin-behineko emaitzak. Las-eskaintzen atarian ikus daditezke.

Erreklamazioa aurkezteko epea 2017-2-20tik 2017-2-24ra

Euskara fasearen behin betiko emaitzak

Euskara fasearen behin betiko emaitzak. Lan-eskaintzen atarian ikus daitezke.

Lehaiketa fasearen behin-behineko emaitzak

Lehiaketa fasearen behin-behineko emaitzak. Lan-eskaintzen atarian ikus daitezke.

Erreklamazioa aurkezteko epea 2017-4-26tik 2017-5-5ra

Lehiaketa fasearen behin betiko emaitzak

Lehiaketa fasearen behin betiko emaitzak eta haitaketa prozesuaren hurrenkera proposamena. Lan-eskaintzen atarian ikus daitezke.

Prozesuaren amaiera

Hautaketa-prozesuaren amaiera.