Irakasgaiaren azalpena eta testuingurua

La asignatura est¿ntegrada por las t¿icas de R-X y de microscopia electr¿a aplicadas al estudio de materiales relacionados con la Ciencia Forense. Analizando el origen, los cambios de fase con la temperatura, la composici¿u¿ca se muestra como los principios estructurales que controlan la historia de los materiales. La asignatura tiene objetivos formativos con orientaci¿rofesional que permiten al alumnado la integraci¿n el mercado de trabajo. El alumnado debe conocer las diferentes t¿icas que se utilizan en el estudio de materiales en an¿sis forense y las difracciones de R-X y de electrones as¿omo los m¿dos espectrosc¿os.

En la primera parte de la asignatura el alumnado aprender¿: utilizar bases de datos (relacionadas con indicios forenses), extraer informaci¿e difractogramas de rayos X, relacionar la estructura y el diagrama de difracci¿reconocer mezclas de fases, fases isoestructurales, polim¿cas y soluciones s¿as de compuestos sencillos, para su identificaci¿as¿omo, la utilizaci¿e otras t¿icas que aporten informaci¿xtra. Las pr¿icas integradas ¿guiadas¿ (no presenciales) de la disciplina son esenciales en la asimilaci¿e conceptos y fijaci¿e los mismos por parte del alumnado.

En la segunda parte se realiza una introducci¿ las t¿icas de microscopia electr¿a (microscopios electr¿os de barrido, transmisi¿ barrido-transmisi¿y se dan los fundamentos de las diferentes t¿icas basadas en las se¿s que se producen durante la interacci¿lectr¿ateria (difracci¿e electrones, emisi¿e fotones de R-X, electrones producidos por ionizaci¿. Los conceptos vistos en las clases magistrales se muestran durante sesiones de clases dirigidas con los microscopios electr¿os y mediante las clases pr¿icas de aula. Finalmente se ven diferentes aplicaciones de la microscopia electr¿a en el ¿ito forense.

Irakasgaia ikastean lortuko diren emaitzak

1.- Aprender a recopilar bibliograf¿especializada y extraer la informaci¿til para la resoluci¿e problemas de ¿ole forense.

2.- Identificar diferentes muestras a partir de la difracci¿e rayos X

3.- Adquisici¿e los conocimientos fundamentales de la microscopia electr¿a

4.- Conocer los microscopios electr¿os y los diferentes tipos de resultados que se obtienen

5.- Elegir el microscopio electr¿o, el modo de trabajo y la preparaci¿e la muestra para resolver su problema espec¿co en el ¿ito forense.

6.- Complementar con otras t¿icas instrumentales adecuadas en cada caso.

7.- Exponer los resultados

Ohiko deialdia: orientazioak eta uko egitea

convocatoria ordinaria:Evaluación : 45% Exámen escrito,37.5% Exámen tipo test, 12.5% informes y memorias de prácticas. 5% participación. Es obligatoria la asistencia a los trabajos prácticos y a un 70% de las clases teóricas.

Ezohiko deialdia: orientazioak eta uko egitea

convocatoria extraordinaria: 87.5% exámen escrito y exámen tipo test, 12.5% informes y memorias prácticas.

Irakasgai-zerrenda

Tema 1. Cristalograf¿y Ciencia Forense, acercamiento interdisciplinar. Introducci¿e los conceptos requeridos para entender los materiales en el contexto Forense. Definici¿el material. Ideas b¿cas sobre materia cristalina. Principios y Aplicaciones.

Tema 2. Periodicidad y Simetr¿en los Materiales. Celda Elemental y Simetr¿ Red Cristalina. Redes de Bravais. Grupos Puntuales. Grupos Espaciales. Densidad y N¿mero de Unidades en la Celda. Ejemplos y Aplicaciones en an¿sis forense.

Tema 3. Difracci¿e Rayos X. Cristalograf¿y T¿icas de Difracci¿n Muestra Policristalina y en Monocristal. Interacci¿e los Rayos X con la Materia. Interpretaci¿e un Difractograma de Rayos X. Obtenci¿e los Par¿tros de Celda y del Grupo Espacial. Ejemplos y Aplicaciones en an¿sis forense.

Tema 4. Introducci¿ la microscopia electr¿a

Tema 5. Microscopios electr¿os : MEB y MET

Tema 6. Microscop¿electr¿a y microan¿sis de muestras masivas.

Tema 7. Preparaci¿e muestras : MEB

Tema 8. Microscopia electr¿a de muestras transparentes a los electrones

Tema 9. Preparaci¿e muestras : MET

Tema 10. Aplicaciones de la microscopia electr¿a en an¿sis forense

Bibliografia

Nahitaez erabili beharreko materiala

Se requiere que el alumnado disponga de un ordenador con conexi¿ Internet y un correo electr¿o de contacto

Apuntes de la asignatura, calculadora, regla y transportador de ¿ulos.

Oinarrizko bibliografia

Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis. J. Goldstein, D. Newbury et al. Kluwer Academic Plenum Publishers. Second edition 1992 y third edition 2003

Transmission Electron Microscopy. A text book for Materials Science. David B. Williams, C. Barry Carter. Plenum Press . First edition 1996 y second edition 2009

Electron diffraction: An introduction for biologists. D.L. Misell, E.B. Brown

Berm¿dez Polonio, J. (1981). ¿M¿dos de Difracci¿e Rayos X. Principios y Aplicaciones¿. Ed. Pir¿de.

Borchardt-Ott, W. (2011). ¿Crystallography¿. (Third Edition). Ed. Springer-Verlag.

Eberhart, P. (1989). ¿Analyse Estructurale et Chimique des Materiaux¿. Ed. Dunod. Paris.

Graef, M.; McHenry, M. (2007). ¿Structure of Materials¿. Ed. Cambridge.

Hawthorne, F.C. (1988). ¿Spectroscopic methods in mineralogy and geology. Reviews in Mineralogy¿, vol. 18, Mineral. Soc. Amer., Washington, p698.

International Tables for Crystallography Volume A: Space-group symmetry. First online edition (2006). Edited by Th. Hahn.

Hammond, C. (2009). ¿The Basics of Crystallography and Diffraction¿. Oxford University Press,

Jenkins, R., Snyder, R.L. (1996). ¿Introduction to X-ray Powder Diffractometry¿. John Wiley & Sons. New York.

Johll, M. E. (2008). ¿Qu¿ca e investigaci¿riminal. Una perspectiva de la Ciencia Forense¿. Editorial Revert¿Barcelona

Krishna, P. (1989). ¿Recent Advances in X-ray Characterization of Materials¿. Ed. Pergamon.

Mart¿z Ripoll, M. (2014). ¿A trav¿del cristal¿. Ed. La Catarata.

Nakamoto K. (1997). ¿Infrared and Raman Spectra of Inorganic and Coordination Compounds¿, Ed. John Wiley & Sons, New York.

Pico, C; L¿, M.L.; Veiga, M.L. (2007). ¿Cristaloqu¿ca de Materiales¿. Ed. S¿sis.

¿Powder Diffraction File-Inorganic and Organic¿ (2001). Pennsylvania. USA.

Putnis, A. (1992). ¿Introduction to Mineral Sciences¿. Ed. Cambridge University Press.

Rodriguez Gallego, M. (1982). ¿La Difracci¿e los Rayos X¿. Ed. Alhambra.

Vainshtein, B.K. (1981,1982). ¿Modern Crystallography I, II. Fundamentals of Crystals¿. Ed. Springer-Verlag, Berlin.

Gehiago sakontzeko bibliografia

Current Methods in Forensic gunshot residue analysis. A.J. Schwoeble, David L. Exline.CRC Press 2000

Forensic examination of glass and paint. Analysis and interpretation. Edited by Brian caddy. Forensic Science Series. Taylor and Francis 2001.

Forensic Science. An introduction to scientific and investigative techniques. Edited by Stuart H. James and Jon J. Nordly. CRC Press Second edition 2005.

Forensic Science Handbook.Volume II. Richard Saferstein Editor. Second edition. Pearson Prentice Hall 2005

Forensic examination of fibres. Edited by James Robertson and Michel Crieve. CRC Press Second Edition 1999.

The forensic examination of paints and pigments. David A. Crown, M. Crim, Charles C. Thomas Publisher 1968

Aldizkariak

Forensic Science International

Journal of Forensic Science

Scanning Electron Microscopy

Ultramicroscopy

Microscopy and Microanalysis

Estekak

CristalMaker¿ Software: http://crystalmaker.com

Diferentes p¿nas Web sobre Cristalograf¿de rayos X (www.xtal.iqfr.csic.es, www.uned.es/cristamine, www.ehu.es/imacris¿).