Gaia

XSLaren edukia

Materialen analisi termiko, testural eta morfologikoa (UPV/EHU)

Gaiari buruzko datu orokorrak

Modalitatea
Ikasgelakoa
Hizkuntza
Ingelesa

Irakasgaiaren azalpena eta testuingurua

Irakasgai honetan Materialen Karakterizazio Teknika ezberdin ikasten dira, baita ere ingeniaritzako materialen karakterizazio suntsitzaileetarako eta ez-suntsitzaileetarako entsegu esperimentalaren alderdiak, araudia, analitika eta tresneria. Karakterizazio teknika ezberdinen aukera zientifikoki eta teknologikoki baloratzen dira, material bat partzialki edo guztiz identifikatu ahal izateko, bereziki izaera polimerikoa edo/eta konpositeak, bere produktu aitzindariak edo degradazioaren produktuak.



Irakasleak

IzenaErakundeaKategoriaDoktoreaIrakaskuntza-profilaArloaHelbide elektronikoa
AGIRRE ARISKETA, IONEuskal Herriko UnibertsitateaUnibertsitateko Irakaslego TitularraDoktoreaElebidunaIngeniaritza Kimikoaion.agirre@ehu.eus
ARIAS ERGUETA, PEDRO LUISEuskal Herriko UnibertsitateaUnibertsitateko KatedradunaDoktoreaElebakarraIngeniaritza Kimikoapedroluis.arias@ehu.eus
REQUIES MARTINEZ, JESUS MARIAEuskal Herriko UnibertsitateaUnibertsitateko Irakaslego TitularraDoktoreaElebidunaIngeniaritza Kimikoajesus.requies@ehu.eus

Gaitasunak

IzenaPisua
Materialen mota guztietako propietateak zehaztea, ekoizpen-, eraldaketa- eta aplikazio-prozesuaren edozein etapatan, teknika konbentzionalen eta beste teknika berritzaile batzuen bidez, eta lortutako informazioa behar bezala interpretatzea, bai eta materialak hobetzeko aukerak ezagutzea ere (gehigarriak, gainazaleko tratamenduak, etab.), haien erabilera optimizatze aldera.100.0 %

Irakaskuntza motak

MotaIkasgelako orduakIkasgelaz kanpoko orduakOrduak guztira
Magistrala1522.537.5
Gelako p.101525
Laborategiko p.57.512.5

Irakaskuntza motak

IzenaOrduakIkasgelako orduen ehunekoa
Banakako eta/edo taldeko lana25.00 %
Eskola magistralak15.080 %
Gelako praktikak10.080 %
Mintegiak - taldeko lana20.00 %
Ordenagailuko praktikak, laborategikoak, landa praktikak5.080 %

Ebaluazio-sistemak

IzenaGutxieneko ponderazioaGehieneko ponderazioa
Azalpenak5.0 % 15.0 %
Idatzizko azterketa40.0 % 60.0 %
Lan praktikoak15.0 % 35.0 %
Praktikak egitea (ariketak, kasuak edo arazoak)15.0 % 35.0 %

Irakasgaia ikastean lortuko diren emaitzak

- Karakterizazio fisiko eta kimikoko teknikak (bide hezea) ezagutzea eta lehengaiak, aitzindariak, produktu erdilanduak eta bukatuak definitzeko berezkoak diren teknika normalizatuak ezagutzea.

- Material solidoak, hauen gehigarriak eta lotura- eta akabera-produktuak ezaugarritzeko teknika espektroskopikoak ezagutzea.

- Aitzindariak, produktu erdilanduak eta bukatuak karakterizatzeko teknika termikoak ezagutzea, eta horiek sortzera edo degradatzera daramaten erreakzioen ezaugarriak baloratzea.

- Aitzindariak, produktu erdilanduak eta bukatuak karakterizatzeko teknika erreologikoak ezagutzea, bai eta helburu estetikoekin edo babes-helburuekin erabiltzen diren material laguntzaileak eta aldatzaileak karakterizatzeko teknika erreologikoak ere.

- Material plastikoak eta konpositeak osatzen dituzten aitzindariak, produktu erdilanduak eta akaberak, hauen gehigarriak eta lotura- eta akabera-produktuak karakterizatu, hauen akatsak karakterizatu eta diagnosia egiteko ikusmen-teknikak, mikroskopia optikoak eta elektronikoak ezagutzea.

- Material plastikoak eta konpositeak, eta hauen loturak eta mihiztadurak ezaugarritzeko teknika mekanikoak ezagutzea.

- Materialen ikusketarako ¿Saiakuntza ez-Suntsitzaileetako Ekipo (NDT)¿ teknika klasiko batzuk ulertzea.

- Material plastikoen eta konpositeen karakterizaziorako eta kalifikaziorako berezkoak diren Aire Zabaleko Erresistentzia eta Suarekiko Erreakzio Saiakuntzen karakterizazio-teknika batzuk ulertzea.

- Informazio zientifiko-teknikoa biltzeko, aztertzeko eta kritikoki hautatzeko moduak ezagutzea.

- Informazio zientifiko-teknikoa ahoz eta idatziz modu koherentean transmititzeko moduak ezagutzea.

- Karakterizazio-teknika jakin batzuek ekar ditzaketen arriskuen balorazioa egiteko gai izatea, bai segurtasunaren eta higienearen ikuspegitik, baita ingurumen-eraginaren ikuspegitik ere.

Ohiko deialdia: orientazioak eta uko egitea

Ikasturte akademiko bakoitzaren hasiera baino lehen web-ean ordutegia kargatzen da Ohiko eta Ez-ohiko deialdietako azterketekin.



EEES araudiaren arabera Jarduera guztietan %80 baino bertaratzen handiago bat eskatzen da (asistentziaren eguneko kontrola, eta ohiko jokaera, jarraituko dira).



Ohiko deialdiko idatzitako azterketa (%50) irakasgaiaren ematea bukatzean egingo da, Masterreko Zuzendaritzak argitaratutako data ofizialetan.



Idatzitako froga egiten den unean irakasleak ikasturtean zehar ebaluazio jarraituari dagozkion froga guztien informazioa eskura izango du (laborategi-txostenak, lan praktikoak, ahozko aurkezpenak, etab.), aurrez aurreikusitako ehunekoekin (%50).



Azken kalifikazioa, idatzizko azterketaren kalifikazioa eta ikasturtean zehar ebaluazio jarraituari dagozkion froga ezberdinetako kalifikazioak batuta lortuko da, betiere azken hauek konpentsatuak badaude.



* Arrazoiren batengatik ebaluazio jarraituko frogen errealizazioa ez balitz posible izango (lan praktikoak, problemen ebazpena…), ehuneko hori idatzizko frogei gehituko litzaioke. Kasu honetan, idatzizko frogak beste atalen bat izan lezake.



DEIALDIARI UKO EGITEA



Deialdiari uko egiteak Ez Aurkeztutako kalifikazioa suposatuko du. Deialdiari uko egitearen eskaera, ikasleak posta elektronikoaz egin beharko du, ebaluazioaren data ofiziala (Masterreko web orriko ordutegiaren arabera) baino 15 eguneko aurrerapenarekin. Posta elektroniko hau, masterreko koordinatzailea kopian jarriz, masterreko idazkari administratiboari zuzenduta egongo da. Idatziz irakasgaiko irakasleei jakin araziko zaie.

Ezohiko deialdia: orientazioak eta uko egitea

Ez-ohiko deialdiko azterketa (%50) Masterreko Zuzendaritzak argitaratutako data ofizialetan egingo da.



Ebaluazio jarraitua (%50) gainditu duten ikasleek, ez-ohiko deialdirako nota gordetzeko aukera izango dute. Kasu honetan, azken kalifikazioa azterketa finaleko nota (%50) eta ikasturtean zehar buruturiko frogen kalifikazioak batuta (%50 ebaluazio jarraitua) lortuko da.



Ebaluazio jarraitua gainditua ez duten ikasleak, edo gordetzea nahi ez dutenak, % 100 kalifikazioa izango duen idatzizko azterketa bakarra egingo dute, aldez aurretik irakasleari idatziz jakin arazi ondoren.



DEIALDIARI UKO EGITEA



Deialdiari uko egiteak Ez aurkeztutako kalifikazioa suposatuko du. Deialdiari uko egitearen eskaera, ikasleak posta elektronikoaz egin beharko du, ebaluazioaren data ofiziala (Masterreko web orriko ordutegiaren arabera) baino 15 eguneko aurrerapenarekin. Posta elektroniko hau, masterreko koordinatzailea kopian jarriz, masterreko idazkari administratiboari zuzenduta egongo da. Idatziz irakasgaiko irakasleei jakin araziko zaie.

Irakasgai-zerrenda

1. Analisi Instrumentalerako sarrera.

2. Teknika espektroskopikoak. Espektroskopia atomikoa eta molekularra. Oinarriak, laginen prestakuntza, analisi prozesua eta emaitzen interpretazioa.

3. Teknika termikoak (kalorimetria, termograbimetria, analisi termomekanikoa). Karakterizazio entsegu intrumentalak, araudia. Oinarriak, laginen prestaketa, analisiaren garapena, emaitzen interpretazioa.

4. Teknika dinamikoak. Analisi dinamiko-mekanikoa. Espektroskopia dielektrikoa. Oinarriak, laginen prestaketa, analisiaren garapena, emaitzen interpretazioa.

5. Teknika mikroskopikoak eta mikroentseguak OM, Konfokal, SEM, TEM, AFM eta tunela). Oinarriak. Laginen prestaketa, mikrotomia eta ultramikrotomia. Filmen prestaketa teknikak: spin coating eta dip coating. Analisiaren garapena. Emaitzen interpretazioa. Entsegu mikromekanikoak.

6. Dispertsio teknikak (argiarenak, X izpienak, sincrotron erradiazioan oinarriturikoak). Oinarriak, laginen prestaketa, analisiaren garapena, emaitzen interpretazioa.

7. Gainazalen eta interfase/interface karakterizazioa mikro eta nanoeskalan. Oinarriak, laginen prestaketa, analisiaren garapena, emaitzen interpretazioa.

8. Aire Zabaleko eta suarekiko erreakzio erresistentzia entseguak.

9. Teknika instrumentalen erabilpen konbinatua. Teknika ezberdinez lorturiko emaitzen aldi bereko analisia.

Bibliografia

Nahitaez erabili beharreko materiala

Laborategiko mantala

Oinarrizko bibliografia

1. Fractography. Observing, measuring and interpreting fracture surface topography. Derek Hull. University Press, Cambridge (1999).

2. Handbook of Microscopy for Nanotechnology. Ed. by Nan Yao and Zhong Lin Wang. Kluwer Academic Pu. New York (2005).

3. Characterization of nanophase materials. Ed. by Zhong Lin Wang. Wiley-VCH. Weinheim (2000).

4. Polymer Microscopy. Ed. by L.C. Sawyer and D.T. Grubb. Chapman & Hall. London (1996).

5. Scanning Probe Microscopy: characterization, nanofabrication, and device application of functional materials. Ed. by P.M. Vilarinho, Y. Rosenwaks and A. Kingon. Kluwer. Dordrecht (2002).

6. Procedures in Scanning Probe Microscopies. Ed. by Colton, Engel, Frommer, Gaub, Gewirth, Guckenberger, Heckl, Parkinson, Rabe. Wiley. West Sussex (1999).

7. Thin film analysis by X-ray scattering. Ed. by M. Birkholz. Wiley-VCH. Weinheim (2006).

8. Encyclopedia of Spectroscopy. Ed. by H.H. Perkampus. Wiley-VCH- Weinheim (1995).

9. Tablas para la elucidación structural de compuestos orgánicos por métodos espectroscópicos. Ed. By E. Pretsch, T. Clero, J. Seibl and W. Simon. Alhambra. Madrid (1991).

Gehiago sakontzeko bibliografia

Aldizkari espezializatuak etengabe kontsultatu behar dira ikastaroan programatutako interes partikular bakoitzerako egokiak diren artikuluak aurkitzeko. Liburutegi elektroniko espezializatuetako datu-baseak erabiliko dira.

XSLaren edukia

Iradokizunak eta eskaerak