nireEHU Materia
Caracterización de nuevos materiales
Datos generales de la materia
- Modalidad
- Presencial
- Idioma
- Castellano
Descripción y contextualización de la asignatura
Asignatura obligatoria del Master en Nuevos Materiales con lo siguientes objetivos:Conocer los métodos de caracterización de materiales modernos.
Obtener una base teórica de los fundamentos de las diferentes técnicas.
Ser capaz de interpretar los resultados obtenidos con las diferentes técnicas.
Profesorado
| Nombre | Institución | Categoría | Doctor/a | Perfil docente | Área | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| BAZAN BLAU, BEGOÑA DEL PILAR | Universidad del País Vasco/Euskal Herriko Unibertsitatea | Personal Doctor Investigador | Doctora | No bilingüe | Cristalografía y Mineralogía | bego.bazan@ehu.eus |
| BEOBIDE PACHECO, GARIKOITZ | Universidad del País Vasco/Euskal Herriko Unibertsitatea | Profesorado Titular De Universidad | Doctor | Bilingüe | Química Inorgánica | garikoitz.beobide@ehu.eus |
| MARTINEZ MARTINEZ, VIRGINIA | Universidad del País Vasco/Euskal Herriko Unibertsitatea | Personal Doctor Investigador | Doctora | No bilingüe | Química Física | virginia.martinez@ehu.eus |
| CARRASCAL VAQUERO, ISIDRO A. | Universidad de Cantabria | Profesorado Titular De Universidad | Doctor | isidro.carrascal@unican.es | ||
| RODRIGUEZ FERNANDEZ, JESUS | Universidad de Cantabria | Profesorado Catedratico De Universidad | Doctor | Física de la Materia Condensada | jesus.rodriguezf@ehu.eus |
Competencias
| Denominación | Peso |
|---|---|
| Capacidad de análisis, síntesis y gestión de información sobre la ciencia de nuevos materiales. | 25.0 % |
| Aprendizaje y trabajo autónomo y creativo en relación a la temática planteada en el Máster. | 25.0 % |
| Tener la capacidad de aplicar las herramientas de la ciencia de los nuevos materiales en la investigación de alto nivel. | 25.0 % |
| Ser capaz de analizar las propiedades de los materiales en relación a su estructura y carácter de enlace. | 25.0 % |
Tipos de docencia
| Tipo | Horas presenciales | Horas no presenciales | Horas totales |
|---|---|---|---|
| Magistral | 30 | 45 | 75 |
| Seminario | 10 | 15 | 25 |
| P. de Aula | 10 | 15 | 25 |
Actividades formativas
| Denominación | Horas | Porcentaje de presencialidad |
|---|---|---|
| Actividades autónomas | 60.0 | 10 % |
| Clases teóricas | 30.0 | 100 % |
| Pruebas de evaluación | 1.0 | 100 % |
| Prácticas de aula | 34.0 | 25 % |
Sistemas de evaluación
| Denominación | Ponderación mínima | Ponderación máxima |
|---|---|---|
| Examen tipo test | 25.0 % | 70.0 % |
| Trabajos Prácticos | 25.0 % | 50.0 % |
Resultados del aprendizaje de la asignatura
Ser capaz de seleccionar las técnicas mas adecuadas para lograr la caracterización de cada tipo de material requerido.Ser capaz de interpretar los resultados de las técnicas de caracterización mas habituales.
Convocatoria ordinaria: orientaciones y renuncia
Examen escrito: 60%Trabajo: 40 %
Los alumnos que no superen la evaluación continua tendrán un examen final.
Los estudiantes a tiempo parcial podrán sustituir una parte, nunca superior al 50%, de la evaluación continua por un trabajo escrito.
Convocatoria extraordinaria: orientaciones y renuncia
Examen escrito: 60%Trabajo: 40 %
Los alumnos que no superen la evaluación continua tendrán un examen final.
Los estudiantes a tiempo parcial podrán sustituir una parte, nunca superior al 50%, de la evaluación continua por un trabajo escrito.
Temario
Tema 1 Técnicas estructurales: Cristalografía y difracción. Micoscopías. Espectroscopías.Tema 2 Técnicas analíticas: EDX, análisis elemental, cromatografía, masas.
Tema 3 Técnicas específicas de caracterización: Caracterización Térmica, Mecánica, Eléctrica, Magnética, Óptica, Caracterización de películas delgadas y superficies.
Bibliografía
Bibliografía básica
"PHYSICAL METHODS FOR MATERIALS CHARACTERISATION" P. E. J. FLEWITT, R. K. WILD, INSTITUTE OF PHYSICS, LONDON (2003)"FUNDAMENTALS OF POWDER DIFFRACTION AND STRUCTURAL CHARACTERIZATION" VITALIJ K. PECHARSKY, PETER Y. ZAVALIJ , SPRINGER (2005)
"MICROSTRUCTURAL CHARACTERIZATION OF MATERIALS" DAVID D. BRANDON, WAYNE D. KAPLAN, JOHN WILEY & SONS (2008)
"PRINCIPLES AND TECHNIQUES OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPY" M. A. HAYAT, VAN NOSTRAND REINHOLD CO (1974)
"THE PRINCIPLES AND PRACTICE OF ELECTRON MICROSCOPY" IAN M. WATT, CAMBRIDGE UNIVERSITY PRESS (1997)
"ATOMIC AND NUCLEAR ANALYTICAL METHODS: XRF, MOSSBAUER, XPS, NAA ...", H R VERMA - SPRINGER (2007)